負(fù)載測(cè)試和壓力測(cè)試 性能測(cè)試 氙燈測(cè)試 UV測(cè)試

1、負(fù)載測(cè)試（可置性測(cè)試）

定義：在被測(cè)系統(tǒng)上不斷增加壓力，直到性能指標(biāo)（如響應(yīng)時(shí)間）超過(guò)預(yù)期指標(biāo)或者某種資源使用已經(jīng)達(dá)到飽和狀態(tài)。可以找到系統(tǒng)的（I3I 6959 OO65）處理極限，為系統(tǒng)調(diào)優(yōu)提供數(shù)據(jù)

特點(diǎn)：

1）：該方法主要目的是找到系統(tǒng)處理能力的極限

2）：該方法在給定的測(cè)試環(huán)境下進(jìn)行，通常需要考慮被測(cè)系統(tǒng)的業(yè)務(wù)壓力量和典型場(chǎng)景

3）：該方法一般用來(lái)了解系統(tǒng)的性能容量，或者是配合性能調(diào)優(yōu)來(lái)使用

性能容量：系統(tǒng)在保證一定響應(yīng)時(shí)間的情況下能夠允許多少并發(fā)用戶的訪問(wèn)

2、壓力測(cè)試

定義：系統(tǒng)在一定飽和狀態(tài)下，例如CPU、內(nèi)存等飽和情況下，系統(tǒng)能夠處理的會(huì)話能力，以及系統(tǒng)是否會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤

特點(diǎn)：

1）該方法的主要目的是檢查系統(tǒng)處于壓力情況下是應(yīng)用的性能表現(xiàn)

該方法通過(guò)增加訪問(wèn)壓力，使系統(tǒng)資源使用保持在一定水平，檢驗(yàn)此時(shí)應(yīng)用的表現(xiàn)，重點(diǎn)在于有誤出錯(cuò)信息產(chǎn)生，系統(tǒng)對(duì)應(yīng)用的響應(yīng)時(shí)間等

2）該方法一般通過(guò)模擬負(fù)載等方法，使得系統(tǒng)的資源使用達(dá)到較高的水平