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        產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST

        實驗室恒溫恒濕老化箱 容積80L

        型號:SMA-80PF

        瀏覽量:3219

        更新時間:2025-07-26

        價格:36900

        簡要描述:

        ??*實驗室恒溫恒濕老化箱 容積80L
        可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實驗部門提供一個模擬環(huán)境,為測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性(可重復(fù))提供*條件。

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        實驗室恒溫恒濕老化箱 容積80L
        品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
        應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,電氣

        *實驗室恒溫恒濕老化箱 容積80L


        1.溫度范圍:-20℃~150℃(D)

        2.濕度范圍:20%~98%R.H  

        3.溫度均勻度:≤±2℃ (空載時)

        4.濕度均勻度:+2% -3%R.H

        5.溫度波動度:≤±0.5℃ (空載時)

        6.濕度波動度:±2%

        7.溫度偏差:≤±2℃

        8.濕度偏差:≤±2%

        9.降溫速率:0.7~1.0℃/min

        10.升溫速率:1.0~3.0℃/min

        11.時間設(shè)定范圍:0~999 小時

        加熱,加濕,除濕系統(tǒng)

        1.加熱采用加熱絲加熱、執(zhí)行元件采用固態(tài)繼電器;加濕采用水蒸發(fā)方式加濕器(外加濕),配有斷水保護器,水位自動控制器,自動上水裝置。除濕采用凝露法,裝有除濕蒸發(fā)器,使工作室內(nèi)空氣中的水蒸汽在除濕蒸發(fā)器上凝露成水,排出箱外,降低工作室的相對濕度。

        2.濕度傳感器采用進(jìn)口電容式傳感器,相比“干濕球"方法,由于無需為濕球補水系統(tǒng)、水質(zhì)等問題擔(dān)憂而且不必頻繁更換紗套因此更適合與做長時間的溫濕度試驗。

        *實驗室恒溫恒濕老化箱 容積80L


        可程式恒溫恒濕試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,塑膠材料、紙品印刷、金屬、原器件及其它材料在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。



        產(chǎn)品規(guī)格(單位:mm)

        1)規(guī)格:100

        型號SMA-100PF 工作室尺寸:D×W×H 400×500×500 外形尺寸1120×720×1510
        2)規(guī)格:225

        SMA-225PF 工作室尺寸:D×W×H 600×500×750立式外形尺寸1320×770×1800
        3)規(guī)格:408

        型號:THA-408PF 工作室尺寸:D×W×H 800×600×850外形尺寸1390×1100×1890
        4)規(guī)格:800

        型號:THA-800PF 工作室尺寸:D×W×H 800×1000×1000外形尺寸1390×1500×1910
        5)規(guī)格:1000

        型號:THA-010PF 工作室尺寸:D×W×H 1000×1000×1000外形尺寸1590×1500×1910


        可根據(jù)要求做更低的濕度,我們叫低溫低濕試驗箱。

        皓天設(shè)備的恒溫恒濕試驗箱溫度范圍分為五個點:ABCDE,其中:A:0~+150℃  B:-20~+150℃  C:-40~+150℃   D:-60~+150℃  E:-70~+150

        內(nèi)箱容積:從小型22L36L80L150L225L408L800L1000L等等標(biāo)準(zhǔn)機型,用戶可以根據(jù)自身的要求定做,皓天設(shè)備滿足用戶要求

         


        制造標(biāo)準(zhǔn):

          GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

          GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件

          GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件

          GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

          GB/T5170、2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

          GB/T5170、5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備

          GB2423、1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法

          GB2423、2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

          GB2423、3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

          GB2424、1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則

         



        環(huán)境條件參數(shù)的可測控性
        任何一臺環(huán)境試驗設(shè)備所提供的環(huán)境條件必須是可觀測的和可控制的,可程式恒溫恒濕試驗箱 這不僅是為了使環(huán)境參數(shù)限制在一定的容差范圍之內(nèi),保
        證試驗條件的再現(xiàn)性和重復(fù)性的要求,而且從產(chǎn)品試驗的安全出發(fā)也是必須的,可程式恒溫恒濕試驗箱 以便防止環(huán)境條件失控導(dǎo)致被試產(chǎn)品的損壞,帶來不必要的損失。
        目前各種試驗規(guī)范中大體要求參數(shù)測試的精度不應(yīng)低于試驗條件允許的誤差的三分之一。


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